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【現(xiàn)代實(shí)驗(yàn)力學(xué)課件】3.1晶體結(jié)構(gòu)缺陷的類型

上傳人:工*** 文檔編號:20150698 上傳時間:2021-02-22 格式:PPT 頁數(shù):31 大?。?.09MB
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1、第二章 晶體結(jié)構(gòu)缺陷 缺陷的含義 :通常把晶體點(diǎn)陣結(jié)構(gòu)中周期性勢場的畸變稱為 晶體的 結(jié)構(gòu)缺陷 。 理想晶體 :質(zhì)點(diǎn)嚴(yán)格按照空間點(diǎn)陣排列。 實(shí)際晶體 :存在著各種各樣的結(jié)構(gòu)的不完整性。 研究缺陷的意義: 由于缺陷的存在,才使晶體表現(xiàn)出各種 各樣的性質(zhì),使材料加工、使用過程中的各種性能得以有 效控制和改變,使材料性能的改善和復(fù)合材料的制備得以 實(shí)現(xiàn)。因此,了解缺陷的形成及其運(yùn)動規(guī)律,對材料工藝 過程的控制,對材料性能的改善,對于新型材料的設(shè)計(jì)、 研究與開發(fā)具有重要意義。 缺陷對材料性能的影響舉例 : 材料的強(qiáng)化,如鋼 是鐵中滲碳 陶瓷材料的增韌 半導(dǎo)體摻雜 本章主要內(nèi)容: 2.1 晶體結(jié)構(gòu)缺陷的

2、類型 2. 2 點(diǎn)缺陷 2.3 線缺陷 2.4 面缺陷 2.5 固溶體 2.6 非化學(xué)計(jì)量化合物 掌握缺陷的基本概念、分類方法; 掌握缺陷的類型、含義及其特點(diǎn); 熟練書寫點(diǎn)缺陷的缺陷反應(yīng)方程式、 化學(xué)平衡方 法計(jì)算熱缺陷的濃度 ; 了解缺陷在材料性能的改善、新型材料的設(shè)計(jì)、 研究與開發(fā)中的意義。 本章要求掌握的主要內(nèi)容: 2.1 晶體結(jié)構(gòu)缺陷的類型 分類方式: 幾何形態(tài) : 點(diǎn)缺陷、線缺陷、面缺陷等 形成原因 : 熱缺陷、雜質(zhì)缺陷、非化學(xué)計(jì)量缺陷等 一、按缺陷的幾何形態(tài)分類 本征缺陷 雜質(zhì)缺陷 點(diǎn)缺陷 零維缺陷 線缺陷 一維缺陷 位錯 面缺陷 二維缺陷 小角度晶界、大角度晶界 攣晶界面 堆垛層

3、錯 體缺陷 三維缺陷 包藏雜質(zhì) 沉淀 空洞 1. 點(diǎn)缺陷 ( 零維缺陷 ) Point Defect 缺陷尺寸處于原子大小的數(shù)量級上 , 即三維方向上缺 陷的尺寸都很小 。 包括: 空位( vacancy) 間隙質(zhì)點(diǎn)( interstitial particle) 錯位原子或離子 外來原子或離子 (雜質(zhì)質(zhì)點(diǎn)) ( foreign particle) 雙空位等復(fù)合體 點(diǎn)缺陷與材料的電學(xué)性質(zhì)、光學(xué)性質(zhì)、材料的高溫動力學(xué) 過程等有關(guān)。 Now What Do You See? Vacancy Interstitial Vacancies: -vacant atomic sites in a stru

4、cture. V a c a nc y di st o r t i o n o f p l a n e s Self-Interstitials: -extra atoms positioned between atomic sites. s e l f - i nte r s ti ti a ld i s t o r t i o n o f p l a n e s Point Defects Common Rare Two outcomes if impurity (B) added to host (A): Solid solution of B in A (i.e., random di

5、st. of point defects) OR Substitutional alloy (e.g., Cu in Ni) Interstitial alloy (e.g., C in Fe) Impurities In Solids 8 Impurities must also satisfy charge balance Ex: NaCl Substitutional cation impurity Substitutional anion impurity initial geometry Ca 2+ impurity resulting geometry Ca 2+ Na + Na

6、+ Ca 2+ cation vacancy i n i t i a l g e o m e t r y O 2- i m pu r i t y O 2- Cl - an io n va c a n c y Cl - r e su l t i n g ge o m e t r y Impurities in Ceramics 2. 線缺陷(一維缺陷) 位錯 (dislocation) 指在一維方向上偏離理想晶體中的周期性、 規(guī)則性排列所產(chǎn)生的缺陷,即缺陷尺寸在一維方 向較長,另外二維方向上很短。如各種 位錯 ( dislocation), 如 圖 所示。 線缺陷的產(chǎn)生及運(yùn)動與材料的韌性、脆性密

7、 切相關(guān)。 刃型位錯 G H E F 刃型位錯示意圖: (a)立體模型 ;(b)平面圖 晶體局部滑移造成的刃型位錯 螺型位錯 C B A D (b) 螺型位錯示意圖 :( a)立體模型 ;( b)平面圖 A B C D (a ) 螺型位錯示意圖 3.面缺陷 面缺陷又稱為二維缺陷,是指在二維方向上偏離理想 晶體中的周期性、規(guī)則性排列而產(chǎn)生的缺陷,即缺陷尺寸 在二維方向上延伸,在第三維方向上很小。如晶界、表面、 堆積層錯、鑲嵌結(jié)構(gòu)等。 面缺陷的取向及分布與材料的斷裂韌性有關(guān)。 面缺陷晶界 晶界示意圖 亞晶界示意圖 晶界 : 晶界是兩相鄰晶粒間的過渡界面。由于相鄰晶粒 間彼此位向各不相同,故晶界處的

8、原子排列與晶內(nèi)不同, 它們因同時受到相鄰兩側(cè)晶粒不同位向的綜合影響,而做 無規(guī)則排列或近似于兩者取向的折衷位置的排列,這就形 成了晶體中的重要的面缺陷。 亞晶界 : 實(shí)驗(yàn)表明,在實(shí)際金屬的一個晶粒內(nèi)部晶格位 向也并非一致,而是存在一些位向略有差異的小晶塊(位 向差一般不超過 2 )。這些小晶塊稱為亞結(jié)構(gòu)。亞結(jié)構(gòu)之 間的界面稱為亞晶界。 面缺陷堆積層錯 面心立方晶體中的抽出型層錯 (a)和插入型層錯 (b) 面缺陷共格晶面 面心立方晶體中 111面反映孿晶 熱缺陷 雜質(zhì)缺陷 二 按缺陷產(chǎn)生的原因分類 非化學(xué)計(jì)量缺陷 晶體缺陷 電荷缺陷 輻照缺陷 1. 熱缺陷 類型 :弗侖克爾缺陷( Frenke

9、l defect)和肖特基缺陷 ( Schottky defect) 定義 :熱缺陷亦稱為 本征缺陷 ,是指由熱起伏的原因所產(chǎn)生 的空位或間隙質(zhì)點(diǎn)(原子或離子)。 熱缺陷濃度與溫度的關(guān)系 :溫度升高時,熱缺陷濃度增加 T E 熱起伏 (漲落 ) E原子 E平均 原子 脫離其平衡位置 在原來位置上產(chǎn)生一個 空位 熱缺陷產(chǎn)生示意圖 ( a)單質(zhì)中弗侖克爾缺陷的形 成(空位與間隙質(zhì)點(diǎn)成對出現(xiàn)) ( b)單質(zhì)中的肖特基缺陷的 形成 表面位置 (間隙小 /結(jié)構(gòu)緊湊 ) 間隙位置 (結(jié)構(gòu)空隙大 ) Frenkel 缺陷 M X: Schottky 缺陷 2. 雜質(zhì)缺陷 特征 :如果雜質(zhì)的含量在固溶體的溶解

10、度范圍內(nèi),則雜質(zhì) 缺陷的濃度與溫度無關(guān)。 雜質(zhì)缺陷對材料性能的影響 定義 :亦稱為組成缺陷,是由外加雜質(zhì)的引入所產(chǎn)生的缺陷。 基質(zhì)原子 雜質(zhì)原子 基質(zhì)原子 雜質(zhì)原子 取代式 間隙式 能量效應(yīng) 體積效應(yīng) 體積效應(yīng) 3. 非化學(xué)計(jì)量缺陷 特點(diǎn) : 其化學(xué)組成隨周圍 氣氛的性質(zhì) 及其 分壓大小 而變化。 是一種半導(dǎo)體材料。 定義 : 指組成上偏離化學(xué)中的定比定律所形成的缺陷。它是 由基質(zhì)晶體與介質(zhì)中的某些組分發(fā)生交換而產(chǎn)生。如 Fe1 xO、 Zn1+xO等晶體中的缺陷。 電荷缺陷 :質(zhì)點(diǎn)排列的周期性未受到破壞,但因電子或空穴 的產(chǎn)生,使周期性勢場發(fā)生畸變而產(chǎn)生的缺陷; 包括:導(dǎo)帶電子和價帶空穴 4. 其它原因,如電荷缺陷,輻照缺陷等 輻照缺陷 :材料在輻照下所產(chǎn)生的結(jié)構(gòu)不完整性; 如:色心、位錯環(huán)等; 輻照缺陷對金屬的影響 : 高能輻照(如中子輻照),可把原子從正常格點(diǎn) 位置撞擊出來,產(chǎn)生間隙原子和空位。 降低金屬的導(dǎo)電性并使材料由韌變硬變脆。退火可排除損失。 輻照缺陷對非金屬晶體的影響 : 在非金屬晶體中,由于電子激發(fā)態(tài)可以局 域化且能保持很長的時間,所以電離輻照會使晶體嚴(yán)重?fù)p失,產(chǎn)生大量的 點(diǎn)缺陷。 不改變力學(xué)性質(zhì),但導(dǎo)熱性和光學(xué)性質(zhì)可能變壞。 輻照缺陷對高分子聚合物的影響 : 可改變高分子聚合物的結(jié)構(gòu),鏈接斷裂, 聚合度降低,引起分鍵,導(dǎo)致高分子聚合物強(qiáng)度降低。

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