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【現(xiàn)代實(shí)驗(yàn)力學(xué)課件】12.4環(huán)境斷裂——?dú)浯?/h1>
上傳人:工*** 文檔編號(hào):20969091 上傳時(shí)間:2021-04-21 格式:PPT 頁(yè)數(shù):20 大?。?27KB

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1、12.4 環(huán)境斷裂氫脆 材料由于受到含氫氣氛的作用而引起的斷裂,統(tǒng)稱為氫脆斷裂或氫致開(kāi)裂,簡(jiǎn)稱氫脆。 氫脆主要發(fā)生在金屬材料構(gòu)件中。 一、氫脆的類型及特征 1、氫壓裂紋 2、氫致化學(xué)變化導(dǎo)致的氫脆氫腐蝕 3、氫致相變導(dǎo)致的氫脆 4、可逆氫脆 5、氫致滯后斷裂 6、氫致斷裂斷口形貌 二、氫脆機(jī)理 1、氫壓理論 2、氫降低鍵合力(弱鍵)理論 3、氫降低表面能理論 4、氫致開(kāi)裂新機(jī)理 一、氫脆的類型及特征 1、氫壓裂紋 在材料中某些缺陷位置,H能復(fù)合成H2,室溫時(shí)它是不可逆反應(yīng),即H2不會(huì)再分解成H。隨著進(jìn)入該缺陷的氫濃度的增加,復(fù)合后H2的壓力也增大。當(dāng)氫壓大于屈服強(qiáng)度時(shí)就會(huì)產(chǎn)生局部塑性變形,如缺

2、陷在試樣表層,則會(huì)使表層鼓起,形成氫氣泡。當(dāng)氫壓等于原于鍵合力時(shí)就會(huì)產(chǎn)生微裂紋,稱為氫壓裂紋。 氫壓裂紋包括鋼中白點(diǎn)、H 2S浸泡裂紋、焊接冷裂紋以及高逸度充氫時(shí)產(chǎn)生的微裂紋等。 (1)鋼中的白點(diǎn) 鋼材剖面酸洗后有時(shí)可以看到像頭發(fā)絲一樣的細(xì)長(zhǎng)裂紋,其寬度一般約1m,故也常稱為“發(fā)裂”。如沿著這些裂紋把試樣打斷,在斷口上可觀察到具有銀白色光澤的橢圓形斑點(diǎn),故稱為“白點(diǎn)”。 (2) H2S誘發(fā)裂紋 碳鋼或低合金管線鋼在H2S溶液中浸泡時(shí),即使不存在外應(yīng)力,試樣內(nèi)部也會(huì)產(chǎn)生微裂紋,裂紋呈臺(tái)階狀。如裂紋處在試樣表面附近,則容易在表面引起鼓泡。 H2S在鋼的界面上反應(yīng)生成H,它進(jìn)入試樣后富集在夾雜物周圍

3、,復(fù)合成H2,產(chǎn)生氫壓,當(dāng)分子氫壓大于臨界值時(shí)就會(huì)產(chǎn)生裂紋。 (3) 焊接冷裂紋 焊接過(guò)程是個(gè)局部冶煉過(guò)程,焊條及大氣中的水分會(huì)進(jìn)入熔池變成H,當(dāng)進(jìn)入的氫量較高時(shí),在焊后的冷卻過(guò)程中就有可能產(chǎn)生氫壓微裂紋(類似于鋼中白點(diǎn))。 采用低氫焊條,焊前焊條和工件烘烤,焊后工件緩冷等措施就可避免焊接冷裂紋。 (4) 充氫(或酸洗)過(guò)程中產(chǎn)生的微裂紋 在酸洗或電解充氫過(guò)程中也有可能產(chǎn)生氫壓裂紋。 電解充氫時(shí)出現(xiàn)的不可逆氫損傷(氫鼓泡或裂紋)主要是充氫逸度過(guò)高引起的。 降低充氫電流密度,不加毒化劑(如As2O3,CS2等)或用熔鹽充氫代替溶液充氫,就可避免充氫過(guò)程中出現(xiàn)不可逆氫損傷。 2、氫致化學(xué)變化導(dǎo)致的

4、氫脆氫腐蝕 材料在高溫高壓氫環(huán)境下使用較長(zhǎng)時(shí)間后,有時(shí)在晶界附近能產(chǎn)生很多氣泡或裂紋,從而引起構(gòu)件的失效,這種不可逆損傷稱為氫腐蝕。 原因:在高溫高壓下H進(jìn)入鋼中后與碳化物反應(yīng)生成甲烷。形成的CH4分子不能從鋼中擴(kuò)散出來(lái),就在晶界夾雜物處形成氣泡,并有很大壓力。隨著CH4的不斷形成,氣泡不斷長(zhǎng)大,當(dāng)氣泡中CH4的壓力大于材料在該溫度下的強(qiáng)度時(shí)就會(huì)使氣泡轉(zhuǎn)化成裂紋。 在鋼中加入Cr,Mo,Ti,V,Nb等碳化物形成元素,形成穩(wěn)定的合金碳化物,可以大大減小氫腐蝕傾向。 3、氫致相變導(dǎo)致的氫脆(1) 氫化物析出導(dǎo)致氫脆 很多金屬或合金(如Ti,Zr,Hf,V,Nb,Ta,Re等)能形成穩(wěn)定的氫化物,

5、氫化物是一種脆性中間相,一旦有氫化物析出,材料的塑性和韌性就會(huì)下降,即氫化物析出導(dǎo)致材料變脆。這是一種氫致相變引起的氫脆。 (2) 氫致馬氏體相變 不穩(wěn)定型奧氏體不銹鋼在電解充氫時(shí)會(huì)發(fā)生氫致馬氏體相變,形成或馬氏體,從而降低材料的塑性和韌性。 氫致馬氏體相變的本質(zhì)和冷加工誘發(fā)馬氏體相變相同 。 上述氫損傷(氫壓裂紋,氫腐蝕,氫致相變)是不可逆的。均為不可逆氫脆。 4、可逆氫脆 固溶的氫在拉伸過(guò)程中通過(guò)擴(kuò)散和富集導(dǎo)致材料塑性下降稱為可逆氫脆。 如果在拉伸前或屈服前把試樣中的氫除去(室溫放置或中溫加熱),則可使塑性恢復(fù)。即使初始?xì)浜亢艿?或介質(zhì)致氫能力很弱),通過(guò)應(yīng)力誘導(dǎo)擴(kuò)散,氫能逐漸富集,從而

6、也會(huì)引起塑性損失。 5、氫致滯后斷裂 在恒載荷(或恒位移)條件下,原子氫通過(guò)應(yīng)力誘導(dǎo)擴(kuò)散、富集,到臨界值后就引起氫致裂紋形核、擴(kuò)展,從而導(dǎo)致低應(yīng)力(外加應(yīng)力低于抗拉強(qiáng)度;對(duì)預(yù)裂紋試樣,外加應(yīng)力強(qiáng)度因子KIKIC)斷裂的現(xiàn)象稱為氫致滯后斷裂。 6、氫致斷裂斷口形貌 氫致斷裂可能獲得韌性斷口(韌窩),也可能獲得脆性斷口(沿晶,解理或準(zhǔn)解理)。如果氫致斷裂是韌窩斷口,則稱為氫致韌斷。 氫致斷口形貌和材料本身的成分和組織結(jié)構(gòu)有關(guān),除此之外影響最大的是氫濃度及開(kāi)裂時(shí)外加應(yīng)力(或外加KI)的大小。 一般來(lái)說(shuō),隨強(qiáng)度升高,氫致斷口形貌由韌窩變?yōu)榻饫?沿準(zhǔn)解理)或沿晶。隨C H升高,斷口形貌也由韌窩變?yōu)榻饫砘?/p>

7、沿晶。 二、氫脆機(jī)理 1、氫壓理論 在H2氣環(huán)境中,H2分解為H原子進(jìn)入金屬中,其濃度CH和 成正比。反過(guò)來(lái),如果溶解在金屬中的H進(jìn)入某些特殊區(qū)域(如夾雜或第二相界面、空位團(tuán))就會(huì)復(fù)合成H2,即2H H2,這時(shí)該處的H2氣壓力P就和 成正比,但由于H2不是理想氣團(tuán),壓力較高時(shí)要用逸度f(wàn)代替,則有: P 2HC RTHCBCf HH /2exp/ 22 當(dāng)局部區(qū)城CH很高,按上式算出的逸度換算成壓力后等于原子鍵合力th時(shí),就會(huì)使局部地區(qū)的原于鍵斷裂而形成微裂紋。 氫壓理論可以很好地解釋各種氫壓裂紋,如鋼中的白點(diǎn)、H2S誘發(fā)裂紋、焊接冷裂紋以及充氫時(shí)產(chǎn)生的鼓泡和裂紋的形成機(jī)理。 2、氫降低鍵合力(

8、弱鍵)理論 氫降低原子鍵合力理論認(rèn)為:當(dāng)局部應(yīng)力集中yy等于原子鍵合力th時(shí),原于鍵就破裂,從而微裂紋形核。 固溶的原于氫能使原于鍵合力從th降為th(H)。這樣,使氫致微裂紋形核所需的局部應(yīng)力集中將從yyth降低為yy(H)th(H)。這樣一來(lái)就會(huì)使造成局部應(yīng)力集中所需的臨界外加應(yīng)力從c降為c(H),或使臨界應(yīng)力強(qiáng)度因子從KIC降為KIH。因此,裂紋更容易形成。 問(wèn)題: (1)用什么實(shí)驗(yàn)?zāi)苤苯幼C明氫能降低原于鍵合力? (2) 鍵合力隨氫濃度下降的定量表達(dá)式; (3)氫降低鍵合力和氫促進(jìn)局部塑性變形是否有關(guān)系。 3、氫降低表面能理論 氫降低表面能理論認(rèn)為:氫吸附在表面就會(huì)使表面能由 降為 (H)。根據(jù)Griffith理論,斷裂應(yīng)力s或斷裂韌性KIC和 成正比,因而當(dāng)氫使 下降,必然使c降為c(H),或使KIC降為KIH,從而增大裂紋形成傾向。 存在的問(wèn)題:表面吸附其它氣體(如H2、O2、SO2、CO、CO2、CS2等)均使表面能下降,但并不引起滯后斷裂或產(chǎn)生可逆塑性損失。 4、氫致開(kāi)裂新機(jī)理 基本思想: (1)氫促進(jìn)位錯(cuò)發(fā)射和運(yùn)動(dòng),即促進(jìn)局部塑性變形 (2)氫降低了原子鍵合力th(H) (3)原子氫進(jìn)入微裂紋復(fù)合成H2,產(chǎn)生氫壓 問(wèn)題:如何定量化? 本章結(jié)束!

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