《鮮京培訓(xùn)之七：CDMA接入專題指導(dǎo)書》由會(huì)員分享，可在線閱讀，更多相關(guān)《鮮京培訓(xùn)之七：CDMA接入專題指導(dǎo)書（25頁(yè)珍藏版）》請(qǐng)?jiān)谘b配圖網(wǎng)上搜索。

1、單擊此處編輯母版標(biāo)題樣式,單擊此處編輯母版文本樣式,第二級(jí),第三級(jí),第四級(jí),第五級(jí),*,接入專題指導(dǎo)書,2008-09,Http:/,1,內(nèi)容,接入過程,接入失敗分析,2,1.,接入過程,1.1,接入過程中的狀態(tài)遷移,在系統(tǒng)接入子狀態(tài)，移動(dòng)臺(tái)在接入信道上向基站發(fā)送消息，在尋呼信道上接收基站消息。,在系統(tǒng)接入狀態(tài)下，又分成六個(gè)子狀態(tài)：總體消息更新子狀態(tài)、移動(dòng)臺(tái)始呼嘗試子狀態(tài)、,尋呼響應(yīng)子狀態(tài)、,Order/,消息響應(yīng)子狀態(tài)、短消息發(fā)送和登記接入子狀態(tài)。,總體消息更新子狀態(tài),在該子狀態(tài)移動(dòng)臺(tái)監(jiān)聽尋呼信道直到它收到最新的一組總體,消息。,移動(dòng)臺(tái)始呼接入狀態(tài),在該子狀態(tài)移動(dòng)臺(tái)向基站發(fā)送始呼消息。,尋呼

2、響應(yīng)子狀態(tài),在該子狀態(tài)移動(dòng)臺(tái)向基站發(fā)送尋呼響應(yīng)消息。,移動(dòng)臺(tái)回命令,/,消息響應(yīng)子狀態(tài),在該子狀態(tài)移動(dòng)臺(tái)對(duì)來自基站的命令,/,消息,回響應(yīng)。,登記接入子狀態(tài),在該子狀態(tài)移動(dòng)臺(tái)向基站發(fā)送登記消息。,移動(dòng)臺(tái)發(fā)送消息子狀態(tài),在該子狀態(tài)移動(dòng)臺(tái)向基站發(fā)送數(shù)據(jù)突發(fā)消息或者端,到端資源控制消息。,取消,PACA,子狀態(tài),在該子狀態(tài)移動(dòng)臺(tái)向基站發(fā)送,PACA,取消消息。目前我們的,系統(tǒng)沒有實(shí)現(xiàn),PACA,。,3,1.,接入過程,1.2,接入?yún)?shù)介紹,PILOT_PN：導(dǎo)頻PN序列索引。,ACC_MSG_SEQ：接入?yún)?shù)消息序列號(hào)。,ACC_CHAN：接入信道號(hào)，表示尋呼信道允許的接入信道個(gè)數(shù)-1。接入信道被移

3、動(dòng)臺(tái)用于發(fā)起始呼、進(jìn)行登記和響應(yīng)基站的尋呼等。當(dāng)移動(dòng)臺(tái)通過信道測(cè)試之后，將隨機(jī)產(chǎn)生一個(gè)接入信道號(hào)RA，并將此作為該移動(dòng)臺(tái)接入試探的發(fā)送信道，其中接入信道號(hào)RA的范圍即為0到ACC_CHAN。接入信道和尋呼信道捆綁，每個(gè)小區(qū)最多可配7個(gè)尋呼信道，每個(gè)尋呼信道最多可配32個(gè)接入信道。我們現(xiàn)在的系統(tǒng)支持上述配置，但是幾乎沒有用過，按照現(xiàn)在的配置每個(gè)扇區(qū)區(qū)配1個(gè)尋呼信道和1個(gè)接入信道來說，接入信道容量足夠用了。,NOM_PWR：額定發(fā)射功率偏置。此參數(shù)是移動(dòng)臺(tái)在開環(huán)功率控制時(shí)，對(duì)接入信道的初始發(fā)射功率估計(jì)值的修正因子。它是為了補(bǔ)償由于前向CDMA信道和反向CDMA信道之間的不相關(guān)造成的路徑損耗差異。該

4、參數(shù)一般用來計(jì)算接入信道移動(dòng)臺(tái)發(fā)射的第一個(gè)試探信號(hào)的平均輸出功率，以及反向業(yè)務(wù)信道初始發(fā)送的平均功率。,INIT_PWR：初始接入功率偏置。此參數(shù)為移動(dòng)臺(tái)在接入過程中，第一個(gè)接入信號(hào)的發(fā)射功率修正因子，單位為dB。,4,1.,接入過程,1.2,接入?yún)?shù)介紹,PWR_STEP：接入時(shí)的功率提升步長(zhǎng)?；驹O(shè)置移動(dòng)臺(tái)在一個(gè)接入試探序列中各試探之間的發(fā)射功率增量，單位為dB。,NUM_STEP：表示在系統(tǒng)接入狀態(tài)中，移動(dòng)臺(tái)發(fā)送的試探序列所包含的持續(xù)請(qǐng)求的最大個(gè)數(shù)，每個(gè)接入試探序列中有NUM_STEP1次接入試探。,MAX_CAP_SZ：此參數(shù)為移動(dòng)臺(tái)接入試探的信息端的最大幀數(shù)-3，單位為幀。每個(gè)接入試

5、探包括一個(gè)接入試探前綴Preamble和一個(gè)接入消息實(shí)體message capsule。前綴的長(zhǎng)度為1+PAM_SZ個(gè)幀，消息實(shí)體的長(zhǎng)度為3+MAX_CAP_SZ個(gè)幀。因此，一個(gè)接入試探在空口上傳送接入信道時(shí)隙的持續(xù)時(shí)間是4+PAM_SZ+MAX_CAP_SZ個(gè)幀。,PAM_SZ：接入信道的前導(dǎo)幀長(zhǎng)度，單位為幀。每個(gè)接入試探由接入信道前綴和接入信道消息實(shí)體組成，其中接入信道前綴幀的最大長(zhǎng)度由該參數(shù)確定，接入信道消息實(shí)體幀的最大長(zhǎng)度由參數(shù)MAX_CAP_SZ確定。基站利用該值來捕獲移動(dòng)臺(tái)的接入。接入試探前綴幀是全0序列，基站不必采集過多能量便可以捕獲到此消息，在對(duì)這個(gè)確知序列調(diào)制時(shí)也比未知序列速

6、度大大加快，從而提高了接入試探的接入速度。,5,PSIST0-9：移動(dòng)臺(tái)接入過載等級(jí)0-9的信道測(cè)試參數(shù)。該值與移動(dòng)臺(tái)的MSG_PSIST、REG_PSIST共同決定其P值的大小，P值說明了移動(dòng)臺(tái)下一個(gè)試探的發(fā)射概率，P值大小影響PD。,PSIST1115：移動(dòng)臺(tái)接入過載等級(jí)0-9的信道測(cè)試參數(shù)。,MSG_PSIST：移動(dòng)臺(tái)在進(jìn)行信息傳輸工作時(shí)，需對(duì)信道測(cè)試參數(shù)進(jìn)行修正，基站將此字段置為該修正值。當(dāng)移動(dòng)臺(tái)準(zhǔn)備進(jìn)行信息傳輸時(shí)，首先要進(jìn)行信息傳輸測(cè)試，只有在測(cè)試通過后，才可以進(jìn)行信息的傳輸，否那么將等到下一個(gè)接入試探序列的起點(diǎn)重新測(cè)試直至通過。,REG_PSIST：移動(dòng)臺(tái)在進(jìn)行主動(dòng)登記時(shí)，需對(duì)信道

7、測(cè)試參數(shù)進(jìn)行修正，基站將此字段置為該修正值。當(dāng)移動(dòng)臺(tái)在向基站進(jìn)行登記時(shí)，首先要進(jìn)行登記測(cè)試，只有在測(cè)試通過后，才可以向基站發(fā)送登記請(qǐng)求，否那么將等到下一個(gè)時(shí)隙起點(diǎn)重新測(cè)試直至通過。,PROBE_PN_RAN：接入信道試探的時(shí)間隨機(jī)化。在移動(dòng)臺(tái)處于系統(tǒng)接入狀態(tài)，準(zhǔn)備發(fā)送請(qǐng)求類接入信令時(shí)，為減少接入信道的碰撞，用移動(dòng)臺(tái)序列號(hào)ESN和接入信道持續(xù)請(qǐng)求時(shí)間隨機(jī)量PROBE_PN_RAN，通過調(diào)用Hash功能函數(shù)生成RN個(gè)PN chip，RN由Hash算法生成，數(shù)值在02 PROBE_PN_RAN-1之間。,1.,接入過程,1.2,接入?yún)?shù)介紹,6,1.,接入過程,1.2,接入?yún)?shù)介紹,ACC_TMO：

8、應(yīng)答定時(shí)時(shí)長(zhǎng)。移動(dòng)臺(tái)發(fā)送一個(gè)接入試探后，在TA時(shí)間內(nèi)檢測(cè)基站的應(yīng)答，TA802ACC_TMO。如果沒有收到響應(yīng)且本接入試探序列沒有發(fā)送完，那么經(jīng)過一個(gè)附加延遲RTRT從0到1PROBE_BKOFFs各時(shí)隙中隨機(jī)產(chǎn)生后，提升功率發(fā)送本接入試探序列中的下一個(gè)試探。,PROBE_BKOFF：接入信道試探滯后范圍。接入試探序列由多個(gè)接入試探組成，移動(dòng)臺(tái)在發(fā)送一次接入試探后的一段時(shí)間TA內(nèi)還沒有接收到基站確實(shí)認(rèn)信息，它將在等待一隨機(jī)時(shí)延RT后發(fā)送另一個(gè)接入試探，此隨機(jī)時(shí)延RT的范圍是01PROBE_BKOFF個(gè)時(shí)隙。通過對(duì)此參數(shù)的設(shè)置，可以使接入試探的發(fā)送時(shí)間被隨機(jī)化，從而隨機(jī)化接入試探序列重新發(fā)送的時(shí)

9、間，減小了試探序列發(fā)生再次沖突的可能性。,BKOFF：接入信道試探序列滯后范圍。該參數(shù)與PROBE_BKOFF類似，移動(dòng)臺(tái)在等待一隨機(jī)時(shí)延RS01BKOFF個(gè)時(shí)隙后發(fā)送另一個(gè)接入試探序列。,MAX_REQ_SEQ：移動(dòng)臺(tái)在接入過程中，一次接入嘗試由多個(gè)接入試探序列構(gòu)成，每一個(gè)接入試探序列由多個(gè)接入試探組成。參數(shù)MAX_REQ_SEQ定義了移動(dòng)臺(tái)在一次請(qǐng)求類接入嘗試中，請(qǐng)求試探序列的最大數(shù)目。假設(shè)移動(dòng)臺(tái)發(fā)送了MAX_REQ_SEQ個(gè)序列仍未收到基站的響應(yīng)，那么認(rèn)為此次接入過程失敗，移動(dòng)臺(tái)將返回初始態(tài)重新搜索系統(tǒng)。,7,1.,接入過程,1.2,接入?yún)?shù)介紹,MAX_RSP_SEQ：移動(dòng)臺(tái)在一次響應(yīng)

10、類接入嘗試中，響應(yīng)試探序列的最大數(shù)目。,AUTH：鑒權(quán)模式。如果要求移動(dòng)臺(tái)在接入信道消息中包含鑒權(quán)數(shù)據(jù)，那么基站設(shè)置該字段為1，否那么為0。,NOM_PWR_EXT：基站設(shè)置此字段為對(duì)標(biāo)稱功率的擴(kuò)展。通常在沒有對(duì)標(biāo)稱功率進(jìn)行擴(kuò)展時(shí)，設(shè)置該字段為0，開環(huán)功控修正因子的范圍為-8dB-7dB；擴(kuò)展后即NOM_PWR_EXT=1時(shí)，開環(huán)功控修正因子的范圍為-24dB-9dB。此參數(shù)的引入為移動(dòng)臺(tái)提供了額外16dB的開環(huán)功控調(diào)整范圍，有利于對(duì)低功率室內(nèi)應(yīng)用的支持。,8,1.2.1 接入試探及試探序列,移動(dòng)臺(tái)在接入信道上采用隨機(jī)接入過程。將第二層封裝的PDU協(xié)議數(shù)據(jù)單元，在移動(dòng)臺(tái),和基站的對(duì)等層之間傳送

11、的已封裝的數(shù)據(jù)發(fā)送出去及收到或沒有收到這個(gè)PDU確認(rèn),的整個(gè)過程稱為一個(gè)接入嘗試Access Attempt。一個(gè)接入嘗試由一個(gè)或多個(gè)接入子,嘗試Access Sub-Attempt組成，在接入子嘗試中的每次傳輸即為接入試探Probe，,它由R-ACH前綴和消息兩局部組成。在每個(gè)接入子嘗試中，接入試探被組成接入試探序列,Access Probe Sequence，每個(gè)接入試探序列包括1+NUM_STEP個(gè)接入試探。,移動(dòng)臺(tái)在接入信道中傳送兩類消息：響應(yīng)消息對(duì)基站消息的響應(yīng)和請(qǐng)求消息移動(dòng)臺(tái),自動(dòng)發(fā)出的。每次接入嘗試由長(zhǎng)為MAX_REQ_SEQ對(duì)于請(qǐng)求接入而言或MAX_RSP_SEQ,對(duì)于響應(yīng)接入

12、而言的接入試探序列組成。下面我們以圖示來說明，文字說明局部提到,的各時(shí)延參數(shù)。,接入試探及接入試探序列的時(shí)間以R-ACH的時(shí)隙表示，每個(gè)接入試探的傳輸開始于R-ACH時(shí),隙的起始時(shí)刻。一個(gè)接入試探序列的開始時(shí)間是隨機(jī)決定的。對(duì)于每個(gè)接入試探序列，時(shí),延RS將從01BKOFF個(gè)時(shí)隙中隨機(jī)產(chǎn)生；另一個(gè)附加的時(shí)延PD，對(duì)于響應(yīng)消息為0。,1.,接入過程,1.2,移動(dòng)臺(tái)接入?yún)f(xié)議,9,1.,接入過程,1.2,移動(dòng)臺(tái)接入?yún)f(xié)議,在時(shí)延RS之后的每個(gè)時(shí)隙，移動(dòng)臺(tái)會(huì)執(zhí)行偽隨機(jī)持續(xù)性檢測(cè)。持續(xù)性檢測(cè)是在每個(gè)時(shí)隙產(chǎn)生,一個(gè)隨機(jī)數(shù)，并將它與一個(gè)預(yù)先決定的門限比較，這個(gè)預(yù)先計(jì)算的門限值根據(jù)接入負(fù)荷等級(jí),等參數(shù)有不同的值

13、。假設(shè)檢測(cè)通過，那么在這個(gè)時(shí)隙發(fā)送序列的第一個(gè)試探。,在接入過程中，當(dāng)移動(dòng)臺(tái)在TA每個(gè)接入試探發(fā)送完畢后等待響應(yīng)的時(shí)間，,TA2ACC_TMO80ms時(shí)間內(nèi)接收到基站發(fā)送確實(shí)認(rèn)消息，本次接入成功。否那么，移,動(dòng)臺(tái)生成一個(gè)隨機(jī)等待時(shí)間RT每個(gè)接入試探發(fā)送完畢后的延遲量，01PROBE_BKOFF個(gè),時(shí)隙，并在RTRN用HASH函數(shù)生成的PN碼隨機(jī)延遲量，HASH函數(shù)為移動(dòng)臺(tái)電子序列號(hào),ESN的函數(shù)時(shí)刻后，再次發(fā)送同一接入試探，此時(shí)移動(dòng)臺(tái)的信號(hào)功率需增加PI dB后續(xù),接入試探信號(hào)功率遞增量，即PWR_STEPdB。,假設(shè)移動(dòng)臺(tái)在同一RA分發(fā)送各個(gè)接入試探序列的Access信道號(hào)，031信道連續(xù)發(fā)

14、送了,1NUM_STEP個(gè)接入請(qǐng)求仍未收到確認(rèn)消息，本次接入試探序列便結(jié)束，移動(dòng)臺(tái)隨機(jī)等,待RS每個(gè)接入試探序列發(fā)送完畢后的延遲量，01BKOFF時(shí)隙個(gè)時(shí)隙后進(jìn)入下一個(gè)接,入試探序列。新的接入試探序列具有相同的RN延遲和初始發(fā)送功率IP第一個(gè)接入試探信號(hào),的功率dBm，但必須重新生成Access信道號(hào)RA，重新進(jìn)行信道測(cè)試。當(dāng)接入試探序列,到達(dá)最大數(shù)以后仍然沒有收到確認(rèn)消息，此次接入便結(jié)束，移動(dòng)臺(tái)重新初始化。,10,RN：PN隨機(jī)化時(shí)延，單位為chips。PN隨機(jī)化規(guī)程決定了移動(dòng)臺(tái)在進(jìn)行接入時(shí)接入嘗試傳送的準(zhǔn)確時(shí)間起點(diǎn)，移動(dòng)臺(tái)較系統(tǒng)時(shí)間延時(shí)RN個(gè)PN碼片后發(fā)射，以降低多個(gè)用戶同時(shí)接入時(shí)可能發(fā)生

15、沖突的概率。延遲的碼片數(shù)RN用散列函數(shù)計(jì)算，取決于移動(dòng)臺(tái)的ESN號(hào)，取值范圍為02 PROBE_PN_RAN1。傳送時(shí)間調(diào)整既包括直接序列擴(kuò)展長(zhǎng)碼的時(shí)延，又包括擴(kuò)展I和Q導(dǎo)頻PN序列積分的時(shí)延，這減小了多個(gè)移動(dòng)臺(tái)在相同時(shí)刻發(fā)出接入消息碰撞到一起而不能被基站解調(diào)的概率，尤其是當(dāng)許多移動(dòng)臺(tái)工作在與基站距離很近的區(qū)域時(shí)。,RP：隨機(jī)數(shù)，0RP1，由移動(dòng)臺(tái)的隨機(jī)數(shù)發(fā)生器產(chǎn)生。在請(qǐng)求接入試探序列情況下，對(duì)于每個(gè)時(shí)隙，移動(dòng)臺(tái)將進(jìn)行偽隨機(jī)的持續(xù)檢測(cè)。如果此時(shí)產(chǎn)生的隨機(jī)數(shù)RPP，那么持續(xù)檢測(cè)通過。通過持續(xù)檢測(cè)，那么序列的第一個(gè)試探就在那個(gè)時(shí)隙開始。如果持續(xù)檢測(cè)失敗將使接入試探序列推遲到至少下一個(gè)時(shí)隙。這樣，請(qǐng)

16、求接入試探序列使用持續(xù)檢測(cè)強(qiáng)加了一個(gè)額外的時(shí)延PD。,PD：持續(xù)時(shí)延PD是滿足條件RPP前進(jìn)行的檢測(cè)次數(shù)，單位為時(shí)隙。PD是一個(gè)隨機(jī)變量，它的平均持續(xù)時(shí)延EPD=(1-P)/P。,P：預(yù)先設(shè)定的門限值。P值的取值與接入過載類n，持續(xù)值PSIST(n)，MSG_PSIST，REG_PSIST相關(guān)。,1.,接入過程,1.3,接入中各時(shí)延參數(shù),11,1.,接入過程,1.3,接入中各時(shí)延參數(shù),TA：一個(gè)試探序列內(nèi)各接入試探間的特定時(shí)間間隔，用于移動(dòng)臺(tái)在該時(shí)間內(nèi)等待BS的應(yīng)答。如果在TA時(shí)間內(nèi)接收到基站的應(yīng)答信息，那么接入嘗試結(jié)束。否那么，移動(dòng)臺(tái)在補(bǔ)償時(shí)延RT后，開始發(fā)送下一個(gè)接入試探。TA=802ACC_TMOms。,RT：一個(gè)試探序列內(nèi)各接入試探間的試探補(bǔ)償時(shí)延，單位為slots。在TA超時(shí)后，移動(dòng)臺(tái)隨機(jī)數(shù)發(fā)生器隨機(jī)產(chǎn)生一個(gè)隨機(jī)數(shù)RT，等待RT個(gè)時(shí)隙，然后增大發(fā)射功率，進(jìn)行下一個(gè)接入試探的發(fā)射。取值范圍0PROBE_BKOFF1。,RS：各個(gè)接入試探序列間的序列補(bǔ)償時(shí)延，單位為slots。一個(gè)接入試探序列發(fā)送完畢后，移動(dòng)臺(tái)隨機(jī)數(shù)發(fā)生器隨機(jī)產(chǎn)生一個(gè)隨機(jī)數(shù)RS，等待RS個(gè)時(shí)隙，然后進(jìn)入下一次接入