D. Hanney Faculty of Engineering。光學(xué)部品表面外觀標(biāo)準(zhǔn)（依據(jù)美國軍用標(biāo)準(zhǔn)MIL-O-13830B）。依據(jù)美國軍用標(biāo)準(zhǔn)MIL-O-13830B用兩組數(shù)字表示表面缺陷大小。例如40/20（或40-20）前者限制劃痕大小。后者限制麻點大小。斑點、坑點、點子 都稱為麻點。長與寬的比小于4。
表面光潔度Tag內(nèi)容描述：
1、 Micro shot blasting of machine tools for improving surface finish and reducing cutting forces in manufacturing D.M. Kennedy *, J. Vahey, D. Hanney Faculty of Engineering, Dublin Institute of Technol。
2、光學(xué)部品表面外觀標(biāo)準(zhǔn)（依據(jù)美國軍用標(biāo)準(zhǔn)MIL-O-13830B）,2,一.定義： 表面缺陷標(biāo)準(zhǔn)：依據(jù)美國軍用標(biāo)準(zhǔn)MIL-O-13830B用兩組數(shù)字表示表面缺陷大小。例如40/20（或40-20）前者限制劃痕大小，后者限制麻點大小。 道子、亮路、傷、擦痕都統(tǒng)稱為劃痕。 斑點、坑點、點子 都稱為麻點。 規(guī)定長與寬的比大于4：1的為劃痕；長與寬的比小于4：1的為麻點。,點子,劃痕,3,當(dāng)元件。
3、表面光潔度標(biāo)準(zhǔn) 講稿,2005/8/6,2,一.定義： 表面缺陷標(biāo)準(zhǔn)：依據(jù)美國軍用標(biāo)準(zhǔn)MIL-PRF-13830B用兩組數(shù)字表示表面缺陷大小。例如40/20（或40-20）前者限制劃痕大小，后者限制麻點大小。 道子、亮路都統(tǒng)稱為劃痕。 斑點、坑點、點子 都稱為麻點。 規(guī)定長與寬的比大于4：1的為劃痕；長與寬的比小于4：1的為麻點。,點子,劃痕,3,當(dāng)元件的不同區(qū)域表面光潔度要求不一樣。
4、表面光潔度標(biāo)準(zhǔn) 講稿,2005/8/6,2,一.定義： 表面缺陷標(biāo)準(zhǔn)：依據(jù)美國軍用標(biāo)準(zhǔn)MIL-PRF-13830B用兩組數(shù)字表示表面缺陷大小。例如40/20（或40-20）前者限制劃痕大小，后者限制麻點大小。 道子、亮路都統(tǒng)稱為劃痕。 斑點、坑點、點子 都稱為麻點。 規(guī)定長與寬的比大于4：1的為劃痕；長與寬的比小于4：1的為麻點。,點子,劃痕,3,當(dāng)元件的不同區(qū)域表面光潔度要求不一樣。
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6、表面光潔度標(biāo)準(zhǔn) 講稿,2005/8/6,2,一.定義： 表面缺陷標(biāo)準(zhǔn)：依據(jù)美國軍用標(biāo)準(zhǔn)MIL-PRF-13830B用兩組數(shù)字表示表面缺陷大小。例如40/20（或40-20）前者限制劃痕大小，后者限制麻點大小。 道子、亮路都統(tǒng)稱為劃痕。 斑點、坑點、點子 都稱為麻點。 規(guī)定長與寬的比大于4：1的為劃痕；長與寬的比小于4：1的為麻點。,點子,劃痕,3,當(dāng)元件的不同區(qū)域表面光潔度要求不一樣。
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8、表面光潔度標(biāo)準(zhǔn) 講稿,2005/8/6,2,一.定義： 表面缺陷標(biāo)準(zhǔn)：依據(jù)美國軍用標(biāo)準(zhǔn)MIL-PRF-13830B用兩組數(shù)字表示表面缺陷大小。例如40/20（或40-20）前者限制劃痕大小，后者限制麻點大小。 道子、亮路都統(tǒng)稱為劃痕。 斑點、坑點、點子 都稱為麻點。 規(guī)定長與寬的比大于4：1的為劃痕；長與寬的比小于4：1的為麻點。,點子,劃痕,3,當(dāng)元件的不同區(qū)域表面光潔度要求不一樣。
9、表 面 光 潔 度 標(biāo) 準(zhǔn) 講 稿200586 2 一 .定 義 ：表 面 缺 陷 標(biāo) 準(zhǔn) ： 依 據(jù) 美 國 軍 用 標(biāo) 準(zhǔn) MILPRF13830B用 兩 組 數(shù)字 表 示 表 面 缺 陷 大 小 。 例 如 4020 或 4020 前。
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