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1,簡(jiǎn)要敘述電法勘探的定義及物性前提。 定義：根據(jù)地殼中不同巖層之間，巖礦石之間存在的電磁性質(zhì)差異，通過觀測(cè)天然存在的或由人工建立的電場(chǎng)，電磁場(chǎng)分布，來研究地質(zhì)構(gòu)造，尋找有用礦產(chǎn)資源，解決工程，環(huán)境，災(zāi)害等地質(zhì)問題的一類地球物理勘探方法。 物性前提：勘探目標(biāo)巖層或巖礦石之間存在電磁性質(zhì)差異。 2，什么是直流電阻率法，它的物性前提是什么？ 以介質(zhì)的導(dǎo)電性差異為物質(zhì)基礎(chǔ)，通過觀測(cè)和研究地下人工穩(wěn)定電流場(chǎng)的空間分布規(guī)律，達(dá)到勘查目的的一組電法勘探方法。 物性前提：勘查目標(biāo)物與圍巖存在著電阻率（或電導(dǎo)）差異。 3，簡(jiǎn)要概述巖礦石電阻率變化規(guī)律。 礦物：金屬礦電阻率比造巖類礦物偏低，而每一種礦物變化范圍很大。 巖石：沉積巖電阻率較低:10——10ΩM ，火成巖與變質(zhì)巖較高：10—10ΩM 。 4，影響巖礦石電阻率的主要因素有哪些？ （1）成分和結(jié)構(gòu):膠結(jié)物，礦物顆粒的電阻率，礦物顆粒形狀和相對(duì)含量和膠結(jié)物連通形式。 （2）含水量和孔隙度：含水量越高，電阻率越低。 （3）溫度：一般溫度升高，電阻率降低。 5，什么是地層的縱向電導(dǎo)和橫向電阻？ 縱向電導(dǎo)：Si=hi/Pi 橫向電阻：Ti=hi*Pi 6，寫出各向異性系數(shù)及平均電阻率的表達(dá)式。 各向異性系數(shù)： 平均電阻率： Pn為垂直于層理方向的電阻率；Pt為沿層理方向的電阻率 7，常用的巖礦石電阻率測(cè)定方式有哪幾種？ 標(biāo)本測(cè)定：巖性均一，形狀規(guī)則。 露頭測(cè)定：露頭巖石表面視為電性均勻，各向同性的下半無限大空間平面 。 鉆孔測(cè)定：孔內(nèi)待測(cè)巖礦石分布范圍相對(duì)測(cè)量極系分布尺度視為無窮大全空間均勻、各向同性的介質(zhì) 8，視電阻率如何定義的，決定視電阻率的主要因素有哪些？ 在實(shí)際地形和地下介質(zhì)的分布并不能滿足條件：下半空間巖、礦石均勻各向同性，地表水平的情況下測(cè)得的電阻率 。 主要因素：① 地電空間分布、或地電斷面分布；② 觀測(cè)位置；③ 地形條件：水平，正地形，負(fù)地形；④ 電極裝置類型（K）：電極間的排列形式和極距大小。 9，用視電阻率的微分形式分別解釋均勻場(chǎng)中地下高阻和低阻球體的電流密度分布規(guī)律。 視電阻率微分形式：Ps= 在左邊均勻地段jmn=j0，所以Ps=P1.在高阻體頂上，由于它向外排斥電流，使得測(cè)量電極M，N間的電流密度jmn>j0，故Ps>P1,在高阻體兩側(cè)，雖然Pmn=P1，但由于jmn ,，右邊 > ,交點(diǎn)處的視電阻率值，把這種交點(diǎn)稱正交點(diǎn)。反交點(diǎn)反之。正交點(diǎn)反映地下為低阻體，而反交點(diǎn)反映地下為高阻體。 21，聯(lián)合剖面法尋找哪類礦體比較有利，為什么？ 對(duì)于勘查直立低阻體較為有效，呈現(xiàn)低阻正交點(diǎn)，且異常幅值比高阻體異常幅值要大 得多,曲線與曲線有明顯異常。 22，中間梯度法確定球體埋深的方法有哪幾種？ （1），△X為 （2）=1.3q， q為曲線半極值點(diǎn)間的弦長(zhǎng) （3）=2m，m為曲線過拐點(diǎn)的弦切距 23，對(duì)于中梯裝置，如果電阻率差異無限增大，視電阻率異常會(huì)如何變化？ 異常均不隨電阻率差異增大而無限增大，當(dāng)，差值大到一定值后異常趨于飽和值。 24，對(duì)于高阻直立板狀體和低阻水平板狀體，采用哪種裝置效果比較明顯，為什么？ 采用中間梯度裝置效果明顯。當(dāng)高阻板狀體直立時(shí)，均勻外電流場(chǎng)的方向與板的走向方向垂直，因而排斥電流的能力最強(qiáng)，異常最大；低阻板水平時(shí)與均勻外電流場(chǎng)的方向一致，吸引電流的能力最強(qiáng)，異常最大。 25，用圖示的方法表示偶極剖面法等值斷面圖的繪制方法。 26，偶極裝置的記錄點(diǎn)是如何規(guī)定的，什么是該裝置的隔離系數(shù)，它與探測(cè)深度有何關(guān)系？ 常取OO’中點(diǎn)為記錄點(diǎn)（O，O’分別為AB，MN中點(diǎn)），當(dāng)令A(yù)B=MN=a，BM=na時(shí)，n為隔離系數(shù)，n越大，裝置探測(cè)深度越深。 27，低阻球體的偶極裝置視電阻率特點(diǎn)是什么，為什么視電阻率在球體兩側(cè)會(huì)出現(xiàn)雙峰？ 剖面曲線在電極距（n）較小時(shí)，球頂上方有極小值，兩側(cè)有兩個(gè)對(duì)稱但不大的極大值。隨著極距n增大，球頂上的極小值更?。╪=2），而后又變大（n=3），并在球體兩側(cè)出現(xiàn)兩個(gè)極小值，形成向下的雙峰。當(dāng)極距進(jìn)一步增大時(shí)，球頂上的極小值再次減小，同時(shí)雙峰向球體兩側(cè)位移且距離變大。當(dāng)極距很大時(shí)（n=5），球頂上不再有極小值，而變?yōu)?的極大值，雙峰距離很大。雙峰是由于供電偶極（AB）或測(cè)量偶極（MN）通過球頂時(shí)，低阻體吸引電流最強(qiáng)或MN處的電流密度最小，故出現(xiàn)極小值即雙峰。 28，山谷和山脊純地形條件下中梯裝置的異常規(guī)律是什么？圖示。 29，簡(jiǎn)要敘述地形影響的消除方法：比較法。 首先在室內(nèi)按著野外實(shí)際地形，物理模型或數(shù)值計(jì)算出純地形異常 ，并對(duì)野外實(shí)測(cè) 異常進(jìn)行改正。 30，什么是無窮遠(yuǎn)極，無窮遠(yuǎn)極的選取遵循什么原則。 無窮遠(yuǎn)極是相對(duì)概念，產(chǎn)生的電位小到在實(shí)際中可以忽略不計(jì)，并取那里的電位為零。無窮遠(yuǎn)點(diǎn)垂直剖面方向。 31，介紹電阻率測(cè)深的概念，并指出它與電阻率剖面法的區(qū)別。 電測(cè)深法：供電電極AB在測(cè)點(diǎn)O兩側(cè)沿相反方向向外移動(dòng)，而測(cè)量電極MN不動(dòng)或與AB保持一定比例地同時(shí)移動(dòng)，主要用來探查地下不同深度范圍內(nèi)的垂向電性變化。 而電剖面法是電極間相對(duì)位置在測(cè)量過程中不變，觀測(cè)時(shí)測(cè)量裝置整體移動(dòng)，反映地下某一深度范圍內(nèi)，介質(zhì)電阻率性質(zhì)沿剖面方向的變化特征。 32，分別繪制二層，三層地電模型Ps。 33，什么是電阻率曲線等值現(xiàn)象，它分哪幾種？ 有些不同地電斷面所對(duì)應(yīng)的電測(cè)深曲線間差別在觀測(cè)誤差范圍以內(nèi)，常將其看成同一條電測(cè)深曲線，這種情況叫~。分為同層等值現(xiàn)象：S等值現(xiàn)象，T等值現(xiàn)象；混層等值現(xiàn)象。 34，當(dāng)最后一層電阻率趨于無窮時(shí)，曲線尾支如何變化？ 當(dāng)∞，時(shí)，在雙對(duì)數(shù)坐標(biāo)系中，其尾支漸近線為斜率等于1（與水平軸夾角為45的直線。 35，電阻率測(cè)深法中AB，MN電極的選擇原則。 （1）AB值選擇的原則 AB min使曲線左支為近水平的線段； AB max滿足勘探深度的要求 ， AB max /4 >H； △AB/2使各供電極距在對(duì)數(shù)坐標(biāo)上均勻分布，約1cm左右。 （2）MN值選擇的原則：AB/3≥MN>AB/30。 36、電阻率測(cè)深法成果解釋圖件有哪些？ 電測(cè)深曲線類型圖，ρs等值線斷面圖，相同極距的ρs剖面圖和平面圖。 37、簡(jiǎn)要介紹HD電法及特點(diǎn)。 基于電阻率法的原理，采用一次陣列布極方式，利用程控多路轉(zhuǎn)換器和微機(jī)電位儀組合方式，實(shí)現(xiàn)不同裝置類型和不同極距的斷面或立體視電阻率測(cè)量，兼顧了電阻率剖面和電阻率測(cè)深法，達(dá)到斷面或立體勘查的目的。 方法特點(diǎn)： ① 獲取信息量大，信息分布密度大； ②一次布極可獲多裝置和多極距的視電阻率 ③勘探精度高，工作效率高，但最大探測(cè)深度和剖面長(zhǎng)度受限制（hmax<200m） ，適宜工程勘察； ④實(shí)現(xiàn)自動(dòng)測(cè)量和反演解釋 38、什么是接地電阻，減少接地電阻的方法有哪些？ 指電極置于大地條件下，從其極表面到大地?zé)o限遠(yuǎn)處所呈現(xiàn)的電阻值。 減少接地電阻的方法：打電極處澆水、電極盡量打在導(dǎo)電性能好的介質(zhì)上，將電極適當(dāng)打深，電極并聯(lián)布置。 39一般提高△觀測(cè)精度的措施有哪些？ 克服干擾、消除漏電、改善接地條件，盡量加大供電電流強(qiáng)度。 40、測(cè)網(wǎng)布置的一般原則是什么？ 一般原則為： ?、贉y(cè)線距離面工作比例尺圖上1cm，點(diǎn)距為測(cè)線距的（1—1/4）倍； 　?、跍y(cè)點(diǎn)在異常處要加密，平緩區(qū)放??； 　?、蹨y(cè)線方向與勘測(cè)目標(biāo)物走向大致垂直； ④測(cè)區(qū)范圍略大于勘探范圍。 41、什么是充電法，它的應(yīng)用領(lǐng)域有哪些？ 以人工供電（或稱充電）體相對(duì)周圍介質(zhì)呈理想良導(dǎo)體為物質(zhì)基礎(chǔ)，通過觀測(cè)和研究向目標(biāo)體供電后的人工電流場(chǎng)在充電體周圍的分布規(guī)律，達(dá)到查明充電目標(biāo)體的空間分布和解決某些地質(zhì)現(xiàn)象為目的的一種電法勘探方法 應(yīng)用領(lǐng)域：（1）確定已被部分揭露礦體的地下伸布范圍 ，形狀，埋深和產(chǎn)狀； （2）確定相鄰礦體的連通性及發(fā)現(xiàn)已知礦旁的的盲礦體。 （3）確定地下水流向、流速 （4）測(cè)試壓裂施工中的裂縫分布 （5）追索地下暗河和地下金屬管線 42、什么是自然電場(chǎng)法？ 它是以介質(zhì)發(fā)生電極化現(xiàn)象為物質(zhì)基礎(chǔ)，通過研究穩(wěn)定自然電流場(chǎng)的分布規(guī)律，達(dá)到勘查某些目標(biāo)物的目的一種電法勘探方法 。 43、介紹電子導(dǎo)體的自然極化現(xiàn)象。 導(dǎo)體與溶液接觸時(shí)，由于熱運(yùn)動(dòng)或化學(xué)反應(yīng)。導(dǎo)體的金屬離子或自由電子可能有足夠的能量，以致克服晶格間的結(jié)合力束縛而越出導(dǎo)體進(jìn)入溶液中。從而破壞了導(dǎo)體與溶液的電中性。分別帶異性電荷，并在其界面處形成雙電層，產(chǎn)生電極電位。 44，維持自然電流場(chǎng)的條件是什么？ 導(dǎo)體外溶液具有不均勻性， 并且外界條件能保持這種不均勻性，使之不因極化放電而減弱 45、介紹離子導(dǎo)體的自然極化現(xiàn)象？ 離子導(dǎo)體與溶液接觸后，在其表面吸附作用下形成雙電層，靠近導(dǎo)體側(cè)帶陰離子，液體一側(cè)帶陽離子，在液體流動(dòng)時(shí)，擴(kuò)散帶陽離子將被帶走。相對(duì)而言，此處出現(xiàn)了極化，在水流上游呈現(xiàn)負(fù)電位，而下游正離子相對(duì)集中呈正電位。 46、自然電場(chǎng)的應(yīng)用領(lǐng)域有哪些？ （1）硫化金屬礦調(diào)查。（2）石墨礦、石墨化地層填圖（3）確定地下水的流向（4）查明地下水與河水的補(bǔ)給關(guān)系。（5）水庫滲漏檢測(cè)。（6）油氣田勘查。 47、電磁感應(yīng)法如何定義？ 以介質(zhì)的電磁性（σ,ε,μ）差異為物質(zhì)基礎(chǔ)，根據(jù)電磁感應(yīng)原理，通過觀測(cè)和研究人工或天然的交變電磁場(chǎng)隨空間分布規(guī)律或隨時(shí)間的變化規(guī)律，達(dá)到某些勘查目的的一類電法勘探方法，簡(jiǎn)稱電磁法 48、電磁系數(shù)的概念？ 引入介質(zhì)的電磁系數(shù)： 49、電磁法的依據(jù)是什么，什么是電磁感應(yīng)現(xiàn)象的一次場(chǎng)和二次場(chǎng)？ 依據(jù)：電磁感應(yīng)現(xiàn)象 地中的分散電流及供電導(dǎo)線中的集中電流均在其周圍產(chǎn)生交變一次磁場(chǎng)，一次磁場(chǎng)在地中又感應(yīng)產(chǎn)生二次電場(chǎng)。 50、影響介電常數(shù)（）的因素 （a）頻散性: 在低電磁感應(yīng)法中，電阻率是不隨頻率 f 變化。 （b）含水量： 51、在電磁法勘探中忽略磁導(dǎo)率的影響的原因 巖石的磁導(dǎo)率隨鐵磁性礦物含量的增高而變大，除少數(shù)磁鐵礦物之外，大多數(shù)介質(zhì)的相對(duì)介電常數(shù)接近于1，從而，可忽略對(duì)電磁場(chǎng)的影響。 52、二次場(chǎng)響應(yīng)與響應(yīng)參數(shù)的關(guān)系 53、什么是橢圓極化，反映什么問題? 由于一次場(chǎng)和二次場(chǎng)的方向、振幅及相位均不相同，總場(chǎng)矢量端點(diǎn)在一個(gè)周期內(nèi)不同時(shí)刻移動(dòng)的軌跡是一個(gè)橢圓，把這種現(xiàn)象稱為橢圓極化。 反映總場(chǎng)軌跡，地下良導(dǎo)礦體的存在,并且其相應(yīng)變化反映礦體電性參數(shù)的變化。 54、 推導(dǎo)時(shí)間域波動(dòng)方程頻率域亥姆霍茲方程（舊書P258） 55、衰減常數(shù)：波振幅沿Z方向按指數(shù)規(guī)律衰減，并沿Z方向前進(jìn)1/b距離時(shí)，振幅衰減為地表值的1/e倍。b為電磁波的衰減系數(shù)。 56、趨膚深度：電磁波自地表面沿z方向前進(jìn)1/b的距離稱為趨膚深度，記作。（舊書P267） 57、TEM定義 它是一種利用不接地回線或接地電極向地下發(fā)送階躍式一次脈沖磁場(chǎng)，在一次脈沖磁場(chǎng)的間歇期間（斷電），利用線圈或接地電極觀測(cè)地下感應(yīng)渦流產(chǎn)生的二次場(chǎng)的空間和時(shí)間的分布規(guī)律，達(dá)到地質(zhì)勘查目的的電磁感應(yīng)方法?？煞譃椋核沧兤拭骐姶欧?，瞬變電磁測(cè)深法。 11 58、TEM中的煙圈效應(yīng) 原理：等效替換 感應(yīng)渦流場(chǎng)在地表引起的磁場(chǎng)為整個(gè)“環(huán)帶”各個(gè)渦流層總的效應(yīng)，這種效應(yīng)可以用一個(gè)簡(jiǎn)單的電流環(huán)來等效，它為一系列與發(fā)送回線同形狀且向下及向外擴(kuò)散的電流環(huán)，通常稱之為“煙圈”。 59、分別介紹TEM中的三種主要裝置及特點(diǎn) （1）中心回線和重疊回線：與地質(zhì)探測(cè)對(duì)象有最佳耦合；響應(yīng)曲線形態(tài)簡(jiǎn)單，時(shí)間特性不發(fā)生變號(hào)現(xiàn)象，便于分析解釋。受地形影響比較小，適合于山區(qū)工作。最大特點(diǎn)是體積效應(yīng)小，分層能力強(qiáng)。 （2）大定源回線裝置：發(fā)送源固定，功大率，電流可達(dá)20安培以上。發(fā)射磁矩大，場(chǎng)均勻及隨距離衰減慢，適合于深部找礦。對(duì)鋪設(shè)回線的要求不是很嚴(yán)格，課采用多臺(tái)接收機(jī)同時(shí)工作，工作效率高，成本低。此裝置回線邊長(zhǎng)一般為900mx500m以內(nèi)，測(cè)線可以布置在回線中部，也可從一側(cè)穿過另一側(cè)； （3）偶極裝置：此種裝置主要用于淺層地層調(diào)查，輕便靈活，可采用不同方向和位置激發(fā)礦體及觀測(cè)多個(gè)分量，對(duì)礦體具有較好的分辨率。缺點(diǎn)：屬于動(dòng)源裝置，發(fā)送磁矩有限，探測(cè)深度較淺，時(shí)間特性復(fù)雜，發(fā)生變號(hào)現(xiàn)象，給解釋帶來一定困難。 60、簡(jiǎn)要分析一下磁偶極裝置中的磁場(chǎng)變號(hào)現(xiàn)象 在早期由于觀測(cè)點(diǎn)位于電流環(huán)的右側(cè)，觀測(cè)到負(fù)的Bz值，電流環(huán)隨時(shí)間向外擴(kuò)展，當(dāng)觀測(cè)點(diǎn)位于電流環(huán)以內(nèi)時(shí)，Bz由負(fù)變正。Bz=0，正好是電流環(huán)邊位于觀測(cè)點(diǎn)一下附近時(shí)的情況。 61、磁偶元早晚期視電阻率定義及特征（圖示） 62、介紹TEM中“薄層”的概念 薄層是指厚度遠(yuǎn)小于瞬變場(chǎng)的擴(kuò)散參數(shù),它是指瞬變場(chǎng)在時(shí)間t足夠長(zhǎng)時(shí)的情況。在瞬變電磁法中，引入等效導(dǎo)電薄層，其目的是為了簡(jiǎn)化對(duì)于多層斷面的解釋方法，與直流電法中的“代替層”的概念類似。與實(shí)際厚度、擴(kuò)散常數(shù)有關(guān) 63、什么是視縱向電導(dǎo)解釋法，它的優(yōu)缺點(diǎn)各是什么？ 視縱向電導(dǎo)：把確定水平薄層縱向電導(dǎo)s及深度h的公式用于層狀大地時(shí)，將所得到的S、稱為視縱向電導(dǎo)。 視縱向電導(dǎo)解釋法：引用水平導(dǎo)電薄層理論，將層狀大地各地層的影響等效為導(dǎo)電薄層的影響進(jìn)行計(jì)算。 優(yōu)點(diǎn)：直觀給出斷面中賦存良導(dǎo)地層情況。更好的分辨地層，一方面提高了精度，一方面加大了探測(cè)深度。 缺點(diǎn)：對(duì)于任意層狀水平斷面，等效平面的下沉速度不再是常數(shù) 64、不同產(chǎn)狀薄板的TEM響應(yīng)特征（圖示） 當(dāng) 時(shí)，由于回線與導(dǎo)體間的耦合較差，異常響應(yīng)較小，異常形態(tài)為對(duì)稱于導(dǎo)體頂部的雙峰；礦頂出現(xiàn)接近于背景的極小值。當(dāng) 時(shí),隨減小，回線與導(dǎo)體耦合增強(qiáng)，異常響應(yīng)隨之增強(qiáng)，但雙峰不對(duì)稱，在導(dǎo)體傾向一側(cè)峰值大于另一側(cè)；極小值隨的減小而稍有增大，其位置向反傾斜一側(cè)有所移動(dòng) 65、直立厚板TEM響應(yīng)特征（圖示） 趨膚深度決定于導(dǎo)體的電導(dǎo)率及場(chǎng)擴(kuò)散時(shí)間。如果板厚大于 ，那么該板不再是薄板，異常特征也隨之變化。早期道異常具有等軸狀體異常響應(yīng)特征，晚期道響應(yīng)轉(zhuǎn)化為對(duì)稱于礦頂?shù)摹氨“瀹惓！?。主要是由于早期板體厚度相對(duì)于趨膚深度而言屬于厚板，渦流集中于礦體頂部；中晚期，板相對(duì)變薄，渦流逐漸向下擴(kuò)分散。 66、水平圓柱體上TEM響應(yīng)特征（圖示） 異常特征：?jiǎn)畏瀹惓?，異常衰減速度決定于時(shí)間常數(shù)，由于 故在半徑相同條件下，球體異常隨時(shí)間衰減速度要比水平圓柱體快得多。 67、取樣道數(shù)和疊加次數(shù)的一般選擇原則 一般來說，在實(shí)際工作中選擇取樣道數(shù)希望盡可能多些，以記錄到在較寬延時(shí)范圍內(nèi)有用信號(hào)；而疊加次數(shù)則希望少些，以提高觀測(cè)速度。這兩點(diǎn)主要決定于測(cè)區(qū)內(nèi)所用觀測(cè)裝置的信噪比。(一般在測(cè)區(qū)開始工作之前，先做試驗(yàn)性工作。如果最后幾道讀數(shù)為儀器噪聲電平，說明有用信號(hào)都被記錄下來，取樣數(shù)和疊加次數(shù)是合適的；如果最后幾道的讀書超過噪聲電平且波動(dòng)較大，這表明還未達(dá)到噪聲電平，應(yīng)增加測(cè)道數(shù)和疊加次數(shù)。) 68、當(dāng)采用不同大小的大回線源裝置測(cè)量同一測(cè)區(qū)時(shí)應(yīng)注意什么？ 大回線源裝置不同發(fā)送回線的測(cè)區(qū)范圍相銜接時(shí)，必須有一定的重疊面積。 69、質(zhì)量檢查點(diǎn)如何選取 為了對(duì)成果的可靠性做出客觀的評(píng)價(jià)，質(zhì)量檢查點(diǎn)不低于總工作量的3%~5%，檢查點(diǎn)應(yīng)在全測(cè)區(qū)分布均勻，對(duì)異常地段、可疑點(diǎn)、突變點(diǎn)重點(diǎn)檢查。 70、TEM主要應(yīng)用領(lǐng)域 （1）水資源勘查 （2）災(zāi)害地質(zhì)調(diào)查 （3）工程場(chǎng)地工程地質(zhì)調(diào)查 （4） 礦產(chǎn)與能源調(diào)查，地?zé)嵴{(diào)查 （5）地質(zhì)災(zāi)害調(diào)查，水文地質(zhì)調(diào)查